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第七十章 兩項測試

  “話說學姐為啥不寫綜述呢?”許秋疑惑道:“吳菲菲和段云可都發了一篇綜述。”

  “我也想寫呀,可是我的實力不允許啊,”陳婉清嘆了口氣道:

  “要是我寫的話,發個中文核心期刊還成,英文的估計就只能發發二區末流的期刊了。

  主要是魏老師對綜述的要求比較高,一般都是要發一區的,他覺得投個二區的綜述還不如不寫。

  “敢問學姐六級過了嗎?”許秋道。

  “當然過了,讀博對英語成績都是有要求的,像我那一年的要求是六級過450分,我剛好壓線,455分,”陳婉清道:

  “聽說今年就漲到480分了,以后的門檻肯定會越來越高的,幸好我來的早。

  對了,你XRD和掃描電鏡SEM的樣品準備了沒有,下午還要測試呢。”

  “差點忘了,還沒有準備,那要怎么制樣呢?”許秋道。

  “XRD的樣品就正常涂在玻璃片上,然后為了防止薄膜變質,需要真空密封起來,在測試前再打開包裝。

  SEM的樣品,同樣是涂在玻璃片上,要用玻璃刀把玻璃片從它的背面劃開,再將其掰成兩半用來測試斷面。

  像是有機薄膜的SEM樣品,掰斷前需要用液氮驟冷使薄膜固定,鈣鈦礦的話不用,直接制樣就可以了。”

  這兩種樣品的制備方法比較簡單,許秋只花費不到半小時就完成了。

  其中,真空密封用的設備是TB買的電加熱真空封口機。

  中途,陳婉清下樓預約了兩點半的SEM測試。

  下午一點二十多分,兩人如約去測試XRD,來到材料二樓104房間。

  負責該儀器的是徐慧老師,她同時還管理著原子力顯微鏡AFM。

  許秋認識她,她是材料化學實驗課程中的老師之一,不過對方好像并不記得他。

  他們是下午第一批測試的人,前面沒有人在測試。

  所以,陳婉清在和徐慧老師打了招呼后,就直接進入測試房間,裝上樣品,準備測試。

  她提前詢問過吳菲菲鈣鈦礦材料的XRD峰位置,一般在0-30度之間,便將測試角度設置為1-30度。

  這是因為0-1度之間的信號強度太強,為了防止出現超過檢測器檢測限的情況,便從1度開始測試。

  XRD設備只占地幾個平方米,外面有一個保護罩,儀器上貼有“當心電離輻射”標志。

  看到這邊的設備,許秋感慨道:

  “相比于魔都同步輻射光源的體量,這里的設備也太小了點。”

  “那當然了,普通XRD只能檢測具有高結晶性的小分子材料。”陳婉清道:

  “而光源那邊因為X射線的亮度是這邊的一億倍以上,因此即使只有微弱結晶性能的有機聚合物材料,也能夠檢測出來它們結晶信息。”

  許秋點點頭,他突然有了一個想法。

  模擬實驗室目前只有材料一樓216一個實驗室。

  而它在升級至2級后,體積增加到1000立方米,擴大了10倍,里面還有很多空間可以利用。

  “系統,可以把這臺XRD儀器復制進模擬實驗室中嗎?”

  可以。復制成功。

  許秋發現模擬實驗室中新開辟出一個房間,正是當前這個104房間,XRD儀器也在里面。

  果然可以復制,許秋心中盤算:

  這樣的話,以后把所有能用到的儀器都復制到模擬實驗室中,再配合加速功能,實驗進度可以起飛了。

  既然已經復制了儀器,自然也要復制技能。

  雖然學姐也有XRD的技能,但是想必沒有徐慧老師的熟練度高。

  “系統,記錄徐慧的X射線衍射儀和原子力顯微鏡的技能。”

  記錄成功。

  許秋查看熟練度,果然徐慧老師的兩項技能均在五階0%以上。

  弄好這些后,許秋將注意力重新轉移到現實中。

  第一個樣品的測試結果已經出來,樣品在7度、14度、21度分別有三個峰出現。

  測試完剩余的三個樣品,剛好花費了半小時左右的時間。

  拷貝數據稍微有些復雜。

  通常這些大型儀器設備的電腦為了防止中病毒,是既不聯網也不能直接插U盤的。

  需要通過網上鄰居共享文件夾到另外一臺電腦上,才能拷貝數據文件。

  兩人拿上數據,做好實驗登記,和徐慧老師打聲招呼,便離開了。

  回到材料一樓,許秋將剛到手的XRD數據處理完,制成圖片后,和學姐一同前去測試SEM。

  來到SEM房間的門口,許秋看到門上布滿了歲月的痕跡,便說道:

  “這門看著都這么老了,這臺電鏡買了很多年了吧。”

  “應該有十幾年吧,”陳婉清道:“所以用它拍出來的圖像有時候比較糊,估計這臺電鏡過幾年就要退役了。”

  “不過我們就是測個厚度,也沒太高的要求,要是追求圖片的質量,可以去化學系蹭儀器,他們好像在兩年前剛換了新的SEM儀器。”

  許秋敲門后,兩人進入房間,頓時一股涼意鋪面而來。

  “呼,好冷。”許秋打了個哆嗦。

  “是啊,SEM儀器的使用溫度一般在20度左右,所以夏天需要把空調開到最低,而且等下還要用到液氮,還會降溫。”陳婉清解釋道。

  許秋點點頭,開始觀察SEM設備。

  雖然這里的門很破,但是從外表看設備保養的還算不錯。

  一個防震臺上放著樣品艙,然后連接著一臺操作電腦,一名老教師坐在電腦旁邊。

  “胡老師,我們來拍斷面的SEM,測量樣品厚度,”陳婉清將裝有樣品的培養皿遞了過去。

  “這是樣品。”

  之后,就全程是胡老師在操作,許秋和陳婉清坐在旁邊看著。

  因為只是測試樣品厚度,所以比較簡單,只需要找到薄膜和玻璃的位置,將其放大后,置于畫面中央,然后拍照即可。

  每拍一張照片前,胡老師都會和陳婉清確認。

  許秋做了五個不同濃度下的FAPbCl3薄膜樣品,最終共得到五張圖片。

  從電腦窗口中,可以看到明亮的一層鈣鈦礦薄膜。

  通過軟件,胡老師計算出每個樣品的薄膜厚度,并標注在圖片上。

  其中,最優條件下的樣品膜厚大約為28納米。

  離開前,許秋同樣復制了這間實驗室,以及胡老師的SEM技能。

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